WEBSHOP TEST
WEBSHOP TEST
Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current–Voltage Characteristics
Fortryk til detailspecifikation: Fototransistorer, Darlingtonfototransistorer, fototransistorrækker
Fortryk til detailspecifikation: Fotokoblere med fototransistorudgang fastsat til omgivelsestemperatur
Ved køb af en trykt udgave i kombination med den elektroniske, kan du få den trykte til halv pris.
Bemærk, rabat kan alene opnås via denne dialogboks. Tilføjes den trykte udgave efterfølgende, påføres rabatten ikke.
